好的,
我在这'当我谈论较低地区的计数时,请尝试说明我的意思是在低Tau的最佳结果。
这noise contributed by the offset oscillator will only cancel out exactly when the DUT and REF are in phase. As the units drift and the counts depart from the lower region the noise from the offset oscillator will start to degrade the measurement!
首先,我'LL显示一个图表,显示出2个不同的偏移振荡器的性能。
一个是FTS 1200,另一个是10811的压电克隆。
然后,一组图表显示使用FTS 1200的低/中/和满量程计数的基线图,然后是压电 offset oscillator.
正如您所看到的,两个振荡器在下部区域表现良好并显示出性能恶化 计数区域上升。
这1200 does give better results than the Piezo when the counts rise.
这Piezo looks a little better when in coincidence but I think I managed to get a better phase match for that particular plot.
还包括噪音图。
小心地,您可以在缩放方面的位置忽略长时间测量,然后在将计数进入下部区域后缩短绘图。
在一个长的剧情上,可能存在杂交,其中计数位于下部区域,只需选择这些部分,然后绘制您的广告。
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当你试图教导你最终学习自己的时候和平时一样!
我从来没有花过多年时间过量,以量化从巧合的距离。
我知道它存在并始终努力最大限度地减少效果。
无论如何,我刚刚使用NBS 106B完成了另一组噪声楼层,其内置于延迟线中,以便在它开始损害结果的情况下销售。
这是一个图表,显示了我发现的。
全规模延迟的百分比 AD @1Sec
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0 1.30-13th
.01 1.57-13th
.1 6.58-13th
1 6.82-13th
2 6.78-13th
3 6.62-13th
4 6.85-13th
50 7.07-13th
100. 8.75-13th
正如您可以看到的那样,较低的.1%将允许测试到低13ths,因为你上面只有50%,你只能在7x10-13的范围内测试。

干杯,
cor