作者 主题:电容泄漏测试仪(概念设计) (Read 208 times)

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离线 Taydin.

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电容器泄漏测试仪(概念设计)
« on: 2019年9月17日,09:55:40 PM»
我正在考虑电容器泄漏测试仪的概念设计,并提出如下所示:

用户将进入测试电压(并且可能是电容,以便向设备提示测试测试需要多长时间。但这不是't批评)。例如,对于63V电解,用户可能进入55V(甚至63V)。

I'LL让DUT充电在低噪声,低公差分流电阻上充电到测试电压。同时充电,我'LL使用非常高的输入抵抗性,低噪声Inamp监控电流。如果电流下降并稳定在可配置的限制下(可能是1μA),则电容器将被视为无泄漏。否则将被视为泄漏。

但这是我的一件事'm not sure. Let'S表示用户已经设置过太高的测试电压,例如80V。鉴于电容器在相对高的电阻分流器上被充电,电流将限制一点。但电容器可能会开始进行。所以我的问题是,在当前的有限场景中,电容器上高于电容器限制杀死帽吗?或者将在高电压下进行帽子,然后在移除电压后恢复?
« 上次编辑:2019年9月17日,10:01:19 PM由Taydin »
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