EEVBlog Electronics社区论坛

寻找"Total Ionizing Dose" (TID) effects.

空间电子产品非常关注永久（TID）或瞬态（单事件效果（参见） - 单个事件瞬态（SET），单个事件UPSET（SEU），单个比特骤降（SBU），软错误，单事件锁存器（SEL） ）由能量粒子引起的效果。

您将在文献中找到有关用于航空航天，军事或核工业使用的设备的TID硬度的大量数据，因为这些设备必须在辐射侵略性的工作环境中工作令人满意。
因此，该设备通过测试的电池限定，其中一个通常是TID测试，该测试包括将电路暴露于CO-60源（发射伽马射线）并在暴露于增加剂量时测量性能/行为劣化辐射。

如果您对整个TID机制感兴趣，只需在谷歌搜索，因为许多研究人员都在努力。如果您需要特定组件的TID数据，则可以在组件中找到此功能'S TID测试报告（虽然您可能必须粗略地问它们）。否则，也许研究人员或美国国家航空航空航空航空航空航空航空航空航军/欧洲航空航空航空航空航空航空航军/欧洲国家/地区

最好的祝福，
担

大型厂商拥有Rad-Hard和Space Rated产品，我会在这个SObject中寻找它们的任何可用数据。例子：
http://www.ti.com/lsds/sites/ti/high-reliability/files/ROM_Logic.pdf